GB/T 21039.1-2007 半导体器件分立器件第4-1部分：微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范

作者:标准资料网时间:2024-05-19 12:51:43 浏览:9236 来源:标准资料网

基本信息

标准名称：	半导体器件分立器件第4-1部分：微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范
英文名称：	Semiconductor devices—Discrete devices—Part 4-1:microwave diodes and transistors—Microwave field effect transistors—Blank detail specification
中标分类：	电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体二极管
ICS分类：	电子学 >> 半导体器件 >> 三极管
发布部门：	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
发布日期：	2007-06-29
实施日期：	2007-11-01
首发日期：	2007-06-29
作废日期：
主管部门：	信息产业部（电子）
提出单位：	信息产业部
归口单位：	全国半导体分立器件标准化分技术委员会
起草单位：	中国电子技术标准化研究所
起草人：	罗发明、刘春勋
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2007-11-01
页数：	平装16开页数：14, 字数：22千字
计划单号：	20030156-T-339

适用范围

本部分等同采用IEC 60747-4-1：2000《半导体器件分立器件第4-1部分：微波二极管和晶体管微波场效应晶体管空白详细规范》。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，具体内容包括：机械说明；简要说明；质量评定类别；极限值；电特性；标志；订货资料；试验条件和简要要求等。

前言

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GB/T 21039.1-2007 半导体器件 分立器件 第4-1部分：微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范